產品詳情
Nanosurf AFM 原子力顯微鏡
產品主要特點:
起伏樣品或多個樣品自動納米機械性能分析
針對不同模型來測量粘彈性、硬度、黏附力與壓入深度
智能軟件自主處理測量需求
樣品高度起伏大可達5mm，力譜曲線大范圍Z向可達100μm
分析軟件可用于大批量與復雜數據的輕松比對
Nanosurf AFM 原子力顯微鏡，一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。
它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。將一對微弱力敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發生形變或運動狀態發生變化。掃描樣品時，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級分辨率獲得表面形貌結構信息及表面粗糙度信息。
它主要由帶針尖的微懸臂、微懸臂運動檢測裝置、監控其運動的反饋回路、使樣品進行掃描的壓電陶瓷掃描器件、計算機控制的圖像采集、顯示及處理系統組成。微懸臂運動可用如隧道電流檢測等電學方法或光束偏轉法、干涉法等光學方法檢測，當針尖與樣品充分接近相互之間存在短程相互斥力時，檢測該斥力可獲得表面原子級分辨圖像，一般情況下分辨率也在納米級水平。AFM測量對樣品無特殊要求，可測量固體表面、吸附體系等。
原子力顯微鏡利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的。由于原子力顯微鏡既可以觀察導體，也可以觀察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。
